发光二极管(LED)
LED的应用在不同的终端市场中越来越多,例如汽车,农业照明,消毒,一般照明等。制造商正在寻找通过开发更好更复杂的结构来提高产量和性能的改进策略。
LED结构包括由外延工艺种植的几个半导体层的叠层。每层的质量控制对于确保高度可靠和高效的最终产品至关重要。
通过对外延层质量的快速反馈,atolight的工具缩短了外延开发周期。
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展示
在当今的联系世界中,需要在展示中实时显示信息的需求。专业用户和消费者为石油和天然气,医疗保健,制造,零售等各个行业提供高性能显示的需求。这些显示器需要高对比度和亮度,以节能和显示长寿。
越来越多的制造商实现μL和固态激光(SSL)照明系统。
SSL和µLED结构由数层半导体层堆叠而成,这些半导体层是通过外延过程生长的。每层的质量控制对于确保高度可靠和高效的最终产品至关重要。
通过对外延层质量的快速反馈,atolight的工具缩短了外延开发周期。
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硅光子学
硅光子用光而不是电流来传输关于计算机芯片的信息。它是超快计算的基本构建块。
制造商在集成光学元件到硅基电子元件上投入了相当大的努力。这些光学元件是通过外延工艺生长的,由于材料的不同结构以及显著减小的尺寸,外延工艺具有挑战性。
Attolight的工具通过高分辨率质量控制和快速反馈来实现这些开发,以及对外延层的质量的快速反馈。
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材料表征
目前正在研究和开发大量材料,以供从电信到显示技术和能源生产等未来应用。atolight的工具已被用于多种材料上,包括新兴的和现有的。这些材料包括硅、2D材料(MoS2、石墨烯等)、无机功能材料(钙钛矿、氧化镓、氧化锌等)、III-V半导体(氮化镓、砷化镓、磷化铟、氮化硼等)、II-VI半导体(氧化锌、碲化镉等)。此外,生物材料上的CL由于其高空间分辨率而成为一个日益活跃的领域。
Attolight的工具帮助研究人员解决任务,例如测量基本光学端电气性能,建立结构性质关系。确定缺陷性质和密度。所有这些任务在尺度上以较小NM到1毫米的尺度执行,前所未有的易用性,赋予材料科学家最大的灵活性和效率来细化合成过程或评估新材料。
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缺陷检测和表征
缺陷局部改变晶体结构。这种变化影响了CL信号的波长和强度。这使得CL是一种用于非破坏性高分辨率缺陷检测和表征的吸引力方法。
缺陷检测和表征
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缺陷检测和表征
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缺陷检测和表征
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缺陷检测和表征
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缺陷检测和表征
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缺陷检测和表征
缺陷局部改变晶体结构。这种变化影响了CL信号的波长和强度。这使得CL是一种用于非破坏性高分辨率缺陷检测和表征的吸引力方法。