Monch

高通量和高效率阴极发光附加为STEM

Mönch是一个用于STEM的阴极发光探测器,从地面开始设计,以实现前所未有的信噪比和光谱分辨率。

Monch-Attolight-STEM-Cathodoluminescence-Detector-Defect-Inspection

它被要求同时测量单个纳米粒子、量子点或原子缺陷的超高分辨率图像和高光谱图的研究人员所使用。Mönch背后的设计有坚实的出版记录,包括纳米等离子体、量子纳米光学、阴极发光和EELS的同步测量、单个量子阱的非线性光谱等。

在STEM中获取阴极发光图时,关键是要在尽可能短的时间内达到所需的信噪比,这样才能生成具有大量像素的图像。然而,只有在微弱的探测电流下才能实现超高分辨率,从而导致微弱的阴极发光发射。因此,理想的阴极发光探测器注定要实现不可能的目标:它应该在一个广泛的固态角度上收集光子,并适合于你的样本和你的STEM极片之间的小间隙;它还应该保持亮度,光谱分辨率和收集效率在大的扫描区域。

Attolight Mönch实现了这一切。首先,它的集合光学是由我们的工程师精心制作,以达到前所未有的曲率半径和小型化水平;它是如此之薄,它可以适应大多数像差纠正或分析茎市场上,同时保持足够的自由度和刚度,以允许完美的亚微米对准镜,而安装在STEM。然后,Mönch直接将阴极发光收集并耦合到光纤束中,并通过光谱仪仔细地保存信号的强度,从而实现恒定的光谱分辨率。最后,一个超高速EMCCD摄像机测量信号,并在数秒内生成大量的高光谱地图。数据可以与其他技术(EELS、EDS等)同时在您喜欢的采集软件中直接采集和可视化。

Mönch不仅仅是一个附加组件。它是由一家制造电子显微镜的公司开发的解决方案,该公司在光学和光谱学方面拥有多年的专业知识。阿特莱特公司将其获得的所有专门设计和制造阴极发光扫描电子显微镜的技术带到stem。

Mönch包括一个专利驱动的采集镜,用于快速和完美的光学对准,一个光纤耦合光谱仪用于高分辨率光谱分析,一个科学级高速相机用于快速高光谱数据采集,以及一个高光谱优化扫描模块用于STEM光束的优化控制。

关键好处


  • 从发射到检测的亮度守恒
  • 恒定的光谱分辨率(不权衡强度)
  • 亚微米精密反射镜驱动器与三个自由度,以实现完美的收集效率在任何位置上的样品
  • 可以调查整个样品区域
  • 适合样品和极片之间2mm的间隙(联系Attolight了解您的系统的兼容性)
  • 超快相机和扫描单元的毫秒高光谱成像在紫外,可见和近红外
  • 可伸缩的镜子
  • 兼容大多数stem技术,如HAADF, BF,衍射,EELS(探测器插入)或EDS,断层扫描(探测器缩回)
  • 兼容Gatan数码显微摄影

应用程序


  • 先进材料的研究,如:氮化物(GaN, InGaN, AlGaN,…);III-V (GaP, InP, GaAs,…);II-VI (CdTe, ZnO,…)
  • 宽带隙材料(金刚石、氮化铝、氮化硼)
  • 复合材料中的成分不均匀性(例如InGaN中的铟簇)
  • 限制结构或异质结构的形态对其光学性质
  • 缺陷(空穴,螺纹位错,堆垛拱顶,…)
  • 等离子

产品规格

  • 专有的反光镜
  • 用于光纤束的光耦合器
  • 收集光学优化过渡从200 nm到1.7μ
  • 光纤束,以解耦光学与光谱检测和最小化振动
  • 为了保持整个设备的亮度,所有的数值光圈相互匹配
  • 将阴极发光输出与用户光学装置(如干涉仪、光注入器等)耦合的可能性
  • 快速交换光纤束以适应特定用户需求的可能性(例如光注入或干涉测量…)
  • 阴极发光的高光谱映射
  • 色散光谱仪具有两个成像出口(320毫米焦距)和一个3光栅转塔(光栅由客户在订购时指定)
  • 高速EMCCD摄像机紫外可见或高速CCD摄像机紫外近红外
  • 用于近红外的InGaAs线性阵列(可选)
  • 3自由度的任意运动的镜子相对于样本
  • 自动化的可伸缩的镜子
  • 行程范围:+- 150 μm (Z), 3 mm (X), 100 mm (Y)
  • 最小增量:50 nm
  • 重复性(全行程范围):1 μm
  • 接触安全,避免损坏杆件或
    样品架
  • 外部扫描卡:4个输入(12位)用于额外的单通道检测器(PMTs,…);2个输出用于控制STEM扫描(X和Y);1输出用于切断STEM光束
  • 最快测量速度:900 Hz (18 s for a 128 Å~ 128 map)
  • 控制软件兼容Windows。7,64位
  • Gatan数字显微摄影的采集和可视化模块
  • 试件与极片之间至少有2.5 mm的间隙(对称极片的总间隙必须为5mm)。更小的设计要求
  • 样品表面和样品架之间小于300 μm的样品架(大多数商用样品架都可以由attlight适应以实现这些规格)